1、儀器校準：

零位調整后，接著對儀器進行量值校準，校準時校準塊的幾何條件；觀測角α=0.2°；入射角β₁=0°β₂=0°。校準步驟如下：

1.1將主機從底板(12)上移開,在底板(12)的試樣角度板(13)上放置校準塊(15),其被測面前端應與試樣角度板(13)的凸起邊靠齊；

1.2轉動試樣角度板（13），使其刻線對準底板（12）上的入射角刻度（14）上的0（即β₂=0°）；

    1.3將主機按2.2條的方法重新放置到底板（12）上；

    1.4調節(jié)觀測角調節(jié)器（1），至0.2°（即α=0.2°）；

1.5按下測量開關（5），約預熱1－2分鐘后觀察數(shù)顯表（7）的讀數(shù)，待讀數(shù)穩(wěn)定后，即可讀出發(fā)光強度系數(shù)值 R。此值應與校準塊所給定的值相等。若不相等，則需調節(jié)校準旋鈕（6），使顯示值等于校準塊的給定值。此時儀器已校準完畢，即可進行測量。

隨著電子系統(tǒng)越來越朝著多功能、更高性能和更小封裝的趨勢發(fā)展，系統(tǒng)散熱問題日漸成為設計環(huán)節(jié)中必須考慮的因素。系統(tǒng)過熱會降低性能

，損壞元件或產(chǎn)生安全隱患。所以使用的時候要注意散熱，做好防御措施，防患于未然。